BA/MA/FP: Bestimmung der elektrisch relevanten Oberfläche im Hochfrequenzbereich

Die Übertragungseigenschaften passiver HF-Komponenten werden neben der Leitfähigkeit maßgeblich durch die Beschaffenheit der Leiteroberflächen beeinflusst. Bei hohen Frequenzen kann der Einfluss der Oberflächenrauheit auf die Verluste und innere Induktivität mit dem Gradientenmodell vorhergesagt werden. Dazu wird oft die Standardabweichung des Oberflächenprofils als Modellparameter herangezogen. Beobachtungen zeigen jedoch, dass ab ca. 100 GHz die elektrisch relevante Rauheit von der mechanischen Rauheit abweicht.

Ziel der Arbeit ist es, die elektrisch relevante Oberflächenrauheit systematisch zu erfassen. Dazu sollen geeignete Hohlleiterkomponenten in verschieden Frequenzbändern mit unterschiedlichen Oberflächen und Gleichstromleitfähigkeiten präzise charakterisiert werden. Dazu gehören Streuparametermessungen und Messungen des Oberflächenprofils mittels Laserkonfokalmikroskopie.

Kontakt:

Dr.-Ing. Gerald Gold, Akad. Rat

Research Group Leader: Microwave Assembly and Interconnects